整根电缆或电缆试样在试验前应置于温度适当稳定的试验室内至少12h。如怀疑导体或金属屏蔽温度与试验室温度不同,则电缆应放在试验室内24h后再测量电阻。或者可将导体或金属屏蔽试样放置在可控温的恒温槽内至少1 h后再测量电阻。导体或金属屏蔽直流电阻应按GB/T3956给出的公式和系数校正到温度为20"C时1km的数值。对于不是铜或铝的金属屏蔽,温度系数和校正公式应分别从JB/T10181.11--2014的表1和2.1.1取得。校正到20C的导体直流电阻不应超过GB/T3956规定的相应的*大值或申明值。校正到20°C的金属屏蔽直流电阻不应超过申明值。

绝缘和外护套厚度测量概述试验方法应按GB/T2951.11--2008第8章的规定,但包覆在皱纹金属套上的外护套厚度测量应按照10.6.3给出的方法。应从每根选作试验的电缆的--端(如果必需)截除任何可能受到损伤的部分后,切取--段代表被试电缆的试样。

对 绝缘的要求此外,包覆在基本光滑表面.上的外护套,其测量值的平均值(mm)按附录B修约至一位小数,不应小于标称厚度。

对平均厚度的要求不适用于包覆在不规则表面上的外护套,如包覆在金属屏蔽线和(或)金属带、或皱纹金属套上的外护套。包覆在皱纹金属套上的外护套厚度,应采用具有至少一个半径约为3 mm的球面测头、精度为士0.01 mm的测微计进行测量。取和测量的步骤如下:a)从成品电缆 上切取包含至少6个波峰和6个波谷的足够长度的一段外护套试样,在该外护套试样的外表面上画一条平行于电缆轴线的参考线。从外护套试样的一端截取的-一个圆环上确定*小厚度的位置,以该*小厚度的位置为中点(以前述的参考线辅助定位)、沿着电缆轴线切取宽度约为20mm~40mm的包含了6个波峰和6个波谷的条状试片。应小心地除去试片上的各种附着物(如防腐涂料);b)在条状试片_上6个波谷位置(护套较薄处)分别测量每个波谷处的护套*小厚度。6个测量值中*小的一一个即为该皱纹金属套上的外护套的*小测量厚度。

金属套厚度测量下列试验适用于铅、铅合金或铝金属套电缆。

?窄条法应采用测量面直径为4 mm~8 mm、精度为士0.01 mm的测微计进行测量。应从成品电缆上切取约50mm长的铅套试件进行测量。应将试件沿纵向剖开,并小心地展平。在清洁试片后,应沿着铅套圆周、距试片边缘不小于10mm处在足够多的点上测量，以确保测得*小.厚度。

圆环法应采用测微计测量,测微计的两个测量面,一个为平面,另-一个为球面,或一个为平面,另一个为长2.4mm、宽0.8mm的矩形平面。球面或矩形平面应适合与环的内侧面接触。测微计精度应为士0.01 mm。应从试样上仔细切取铅套圆环进行测量。应沿圆环的圆周在足够多的点上测量,以确保测得*小厚度。